لیست اختراعات حميدرضا طبرسا


ثبت :
از
تا
اظهارنامه :
از
تا

بازنشانی
تعداد موارد یافت شده: 2
تاریخ ثبت: 1396/12/14
خلاصه اختراع:

در اين طرح يك فرآيند جديد براي تشخيص عيب بيرون¬زدگي و فرورفتگي سيم‌پيچ ارائه شده‌است. اين فرآيند براساس فرآيند‌هاي تصويربرداري راداري در فركانس UHF و به فرآيند stepped-frequency، عمل مي‌كند. در اين فرآيند‌ تصويربرداري راداري سيگنال¬هاي سينوسي به سمت هدف ارسال نموده و بازتاب آن را، كه داراي اختلاف در اندازه و فاز است، اندازه‌گيري مي‌گردد. سيگنال بازگشتي از سيم‌پيچ كه يك سيگنال يك بعدي مي‌باشد، دربرگيرنده بخش از اطلاعات فيزيكي آن مي‌باشد. براي به‌دست آوردن اطلاعات بيشتر از سيم‌پيچ، آنتن‌هاي فرستنده و گيرنده در طول يك خط راست جابجا شده و سيگنال بازتاب شده از آن در نقاط مختلف اين خط اندازه‌گيري مي‌گردند. مجموعه اين سيگنال‌ها يك داده‌ي دوبعدي را در حوزه زمان-فضا تشكيل مي‌دهند. اين داده دوبعدي، پس از حذف نويز و بخش‌هاي ناخواسته، با استفاده از الگوريتم‌ مهاجرت كرشهف يك تصوير دوبعدي تبديل مي‌گردد. استفاده از فرآيند stepped-frequency بدليل امكان تشخيص وقوع تخليه جزيي در حين تصويربرداري راداري، باعث كاهش تشخيص اشتباه در فرآيند تصويربرداري راداري مي¬گردد. با تجزيه و تحليل تصاوير، علاوه بر تشخيص عيب تغيير شكل سيم‌پيچ، در تعداد آنتن¬هاي نصب شده در بدنه ترانسفورماتور صرفه جويي مي¬گردد.

تاریخ ثبت: 1397/11/27
خلاصه اختراع:

در اين طرح يك روش جديد براي تشخيص عيب بيرون¬زدگي و فرورفتگي سيم‌پيچ ارائه شده‌است. اين روش براساس فرآيند پردازش تصوير، عمل مي‌كند. در اين روش‌ تصويرسالم از سيم پيچ ترانس به عنوان تصوير مرجع در نظر گرفته شده و با تصاوير ضبط شده در زمان¬ها بهره¬برداري ترانس مقايسه مي¬شود. اين تصاوير يك ماتريس دوبعدي را تشكيل مي‌دهند. اين ماتريس هاي دوبعدي، در هر سطر به صورت درايه به درايه با ماتريس تصوير مرجع مقايسه مي¬شود. با توجه به تفاوت درايه هاي ماتريس مرجع و ماتريس تصوير ضبط شده، عيب تغييرشكل شعاعي سيم¬پيچ تشخيص داده مي¬شود. استفاده از فرآيند پردازش تصوير قابليت تشخيص چند عيب شعاعي به صورت همزمان را دارا مي¬باشد و نويز و عيوب تخليه جزئي، بر آن تاثيرگذار نخواهد بود.

موارد یافت شده: 2